[Electron Microscopy Sciences] Non-Porous SiO2 TEM Window,(8) 100µm, (1) 100x350µm, 40nm

[Electron Microscopy Sciences 한국공식대리점]

[Electron Microscopy Sciences] Non-Porous SiO2 TEM Window,(8) 100µm, (1) 100x350µm, 40nm

Product Information:

Non-Porous SiO2 TEM Window,(8) 100µm, (1) 100*350µm, 40nm은 취급이 훨씬 쉬워지도록 설계되었습니다.
그리드 폭을 약간 더 슬림하게 설계함으로써, 사용자는 이제 TEM holders안의 그리드에 훨씬 더 쉽게 접근할 수 있습니다. 더 이상 핀셋으로 그리드를 집거나 내려놓을 때 버벅거리며 애쓸 필요가 없습니다.

새로운 TEM Window 그리드 형태(TEM Window grid shape)는 기존의 모든 표준 TEM 홀더(standard holders)와 완벽하게 호환됩니다.

• SKU: 76042-90
• Pack: 10 Pack

Features:

• Plasma Cleanable: 유기 오염물을 제거하기 위해 강한 플라즈마 클리닝이 가능합니다.
• Field to Field Uniformity: 이미지 영역 간 변동성이 줄어들어 보다 일관된 분석 결과를 제공합니다.
• Tolerates Temperatures Above 1000°C: 1000°C 이상의 고온에서도 안정적이며, 고온에서 동적 과정을 관찰하는 Environmental TEM에 적합합니다.
• Withstands Harsh Conditions: 이미징 해상도, 화학적 안정성, 기계적 강도 사이의 이상적인 균형을 제공하여 가혹한 조건에서도 우수한 성능을 유지합니다.
• Incorporates Stoichiometric Silicon Dioxide: 질소를 EDX 분석 기법으로 측정할 수 있는 장점을 제공합니다.

Specifications:

• TEM Window의 규격은 지름 2.9mm, 두께 100µm 입니다.
• Non-Porous 필름은 약간의 주름이 있으며, 100 µm 이동 거리 기준 처짐은 약 5 µm 이하입니다. 이는 일반적으로 고해상도 이미징에는 문제가 되지 않습니다.
• GFLAT silicon oxide films은 독자적인 공정을 통해 제조되어, 평탄하고 부유된 실리콘 산화물 멤브레인 구조를 형성합니다.
• 이 멤브레인은 유리와 같은 친수성 표면을 가지고 있어, 생물학적 이미징 연구에 매우 적합합니다.
• 이 TEM Window는 본질적으로 micro-scale glass cover slips과 같은 역할을 합니다.

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